Pemindaian objek menggunakan sinar-X pada hakikatnya adalah proses perekaman energi ataupun intensitas sinar tersebut setelah dipaparkan pada sebuah objek dengan sudut tertentu. Pada kasus penyinaran oleh berkas radiasi, proyeksi yang dimaksud dapat berupa bayangan yang diperoleh dari hasil penetrasi berkas tersebut berupa profil atenuasi maupun transmisi. Dengan konteks yang lebih spesifik lagi, proyeksi yang terekam oleh detektor berupa sisa akumulasi energi maupun intensitas yang terserap di sepanjang penampang yang ditembus berkas sebelum mencapai detektor. Secara matematis fenomena penyerapan properti (energi ataupun intensitas) berkas radiasi dapat dimodelkan dengan integral garis dengan asumsi penjalaran berkas tersebut berada pada lintasan lurus (Kak dan Slaney, 1988). Integral garis dalam hal ini digunakan untuk menghitung redaman total energi maupun intensitas berkas sebagai akibat adanya interaksi antara berkas dan substansi yang dilalui berkas tersebut. Dalam kasus tomografi menggunakan sinar X, interaksi yang terjadi antara sinar X dengan material dapat berupa proses redaman, adsorpsi, ataupun hamburan intensitas. Sehingga, integral garis merepresentasikan nilai redaman total yang terjadi pada berkas sinar X yang berjalan lurus menembus objek (Turbell, 2001).
Gambar1. Skema akuisisi profil atenuasi pada beam of view tertentu
Gambar 1 menjelaskan proses akuisisi redaman total yang terekam di sepanjang domain pada sudut paparan . Tiap titik di p(θ,t) merupakan integral garis dari parameter objek f(x,y) sepanjang garis lurus yang dilalui sinar-X pada domain x dan y. Secara matematis integral sepanjang lintasan L terhadap objek dapat dihitung dengan Persamaan (Turbell, 2001).
Dalam melakukan perekaman data menggunakan mesin CT scan maupun micro CT scan, proses scanning dilakukan secara berulang dengan sudut yang berbeda sampai jumlah proyeksi yang dibutuhkan cukup. Kumpulan keseluruhan profil proyeksi yang terekam pada detektor yang disusun berdasarkan kenaikan sudut proyeksi akan membentuk citra yang selanjutnya disebut dengan sinogram.
Sinogram yang terkumpul selanjutnya akan digunakan untuk proses rekonstruksi citra. Dengan menganalisa sinogram dapat pula diketahui detektor yang rusak (defektif) maupun detektor yang tidak terkalibarasi dengan baik.
